大米外观品质检测仪-电子式粉质仪-杭州大吉光电仪器有限公司

FN-IV降落值测定仪,降落数值测定仪是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物、尤其是小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测仪器。